半導體高低溫檢測設(shè)備試驗箱也叫led高低溫溫度沖擊箱，用壓縮機為主的制冷系統(tǒng)制冷產(chǎn)生低溫（也稱冷溫）及在加熱系統(tǒng)中產(chǎn)生的高溫（也稱熱溫）中兩溫度經(jīng)過控制器操控來回沖擊試驗led產(chǎn)品或配件，檢測其所受的在短時間內(nèi)經(jīng)極冷溫及極熱溫的連續(xù)循環(huán)環(huán)境下所能承受的物理變化。

半導體高低溫檢測設(shè)備試驗箱的性能參數(shù)參考如下：

一、低溫沖擊可選擇溫度范圍：A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃（廠家還免費配高溫至150度）。

二、溫度偏差：±2℃。

三、溫度波動度：±0.5℃。

四、溫度恢復時間：≤5min。

五、溫度恢復條件：高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min。

六、溫度沖擊轉(zhuǎn)移方式：采用氣動驅(qū)動。  

七、高溫室儲溫的升溫時間：30min (+25℃～+200℃)。

八、低溫室儲溫的降溫時間：65min (+25℃～-75℃)。

九、低溫沖擊試驗機|低溫沖擊機|沖擊試驗機工作時的噪音：（dB）≤65( 標準規(guī)定≤65分貝不算噪音）

十、型號             內(nèi)箱尺寸（mm)             外箱尺寸（mm）           功率（kw)

LQ-TS-49       W360×H350×D400        W1550×H1730×D1440           18.5      

LQ-TS-80       W500×H400×D400        W1650×H1830×D1500           23.0

LQ-TS-150      W600×H500×D500        W1750×H1930×D1570           28.0

LQ-TS-225      W500×H750×D600        W1450×H2100×D1670           34.0

LQ-TS-408      W750×H800×D800        W1550×H2150×D1900           42.0

備注：以上參數(shù)如均不符合自家的產(chǎn)品測試條件，可以致電業(yè)務員或者聯(lián)系在線客服下單非標定制，或者上門定制，不收額外費用與成本。與低溫沖擊試驗機|低溫沖擊機|沖擊試驗機相關(guān)的設(shè)備還有高低溫沖擊試驗機、冷熱沖擊試驗機、高低溫沖擊機、高低溫檢測沖擊試驗機、高低溫沖擊實驗機、冷熱沖擊實驗機、冷熱沖擊檢測機、兩箱式低溫沖擊試驗機、三箱式低溫沖擊試驗機、等沖擊試驗機。歡迎廣大顧客前來咨詢。